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JB/T 6571-1993 人造金刚石或立方氮化硼冲击韧性测定方法

作者:标准资料网 时间:2024-03-29 01:26:56  浏览:8992   来源:标准资料网
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基本信息
标准名称:人造金刚石或立方氮化硼冲击韧性测定方法
中标分类: 机械 >> 工艺装备 >> 磨料与磨具
替代情况:被JB/T 10987-2010代替部分
发布部门:中华人民共和国机械工业部
发布日期:1993-03-31
实施日期:1994-01-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:2010-07-01
提出单位:机械工业部郑州磨料磨具磨削研究所
归口单位:机械工业部郑州磨料磨具磨削研究所
起草单位:郑州磨料磨具磨削研究所
起草人:田松乔、张骏祥
出版社:机械工业出版社
出版日期:1994-01-01
页数:5页
批文号:机械科[1993]24号
适用范围

本标准规定人造金刚石或立方氮化硼冲击韧性的测定装置与测定方法。

前言

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目录

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引用标准

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所属分类: 机械 工艺装备 磨料与磨具
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基本信息
标准名称:金硅面垒型探测器
英文名称:Partially depleted gold silicon surface barrier detectors
中标分类: 能源、核技术 >> 核仪器与核探测器 >> 核探测器
ICS分类: 能源和热传导工程 >> 核能工程
替代情况:替代GB/T 13178-1991
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2008-07-02
实施日期:2009-04-01
首发日期:1991-04-11
作废日期:
主管部门:全国核仪器仪表标准化技术委员会
提出单位:中国核工业集团公司
归口单位:全国核仪器仪表标准化技术委员会
起草单位:中核(北京)核仪器厂
起草人:李志勇
出版社:中国标准出版社
出版日期:2008-11-01
页数:12页
计划单号:20061773-T-307
书号:155066·1-33577
适用范围

本标准参考了IEC 60333:1993《核仪器 半导体带电粒子探测器 测试程序》。
本标准代替GB/T 13178-1991《金硅面垒型探测器》。
本标准规定了部分耗尽金硅面垒型探测器(简称探测器)的产品分类、技术要求、测试方法、检验规则等。
本标准适用于部分耗尽金硅面垒型探测器(不包括位置灵敏探测器)。锂漂移金硅面垒型探测器也
可参照执行。
本标准保留GB/T 13178-1991的大部分内容,对其的主要修改如下:
——增加前言;
——引用新的规范性文件;
——产品的外形及结构尺寸仅保留A型,删去原标准的B型和C型;
——部分耗尽金硅面垒型探测器的分类仅保留最小耗尽层深度为300μm一类,而主要性能增加“允许最大噪声”。

前言

没有内容

目录

没有内容

引用标准

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T5201 带电粒子半导体探测器测试方法(GB/T5201-1994,neqIEC60333:1993)
GB/T10257-2001 核仪器和核辐射探测器质量检验规则

所属分类: 能源 核技术 核仪器与核探测器 核探测器 能源和热传导工程 核能工程
【英文标准名称】:Electromagneticcompatibility(EMC)-Part4-6:Testingandmeasurementtechniques-Immunitytoconducteddisturbances,inducedbyradio-frequencyfields
【原文标准名称】:电磁兼容性(EMC).第4-6部分:测试和测量技术.射频场感应的传导干扰抗扰性
【标准号】:IEC61000-4-6-2008
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2008-10
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC77B
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:基础标准;定义;电器;电气工程;电气设备;电驱动装置;电磁兼容性;电子仪器;电子装置;EMC;高频;影响量;干扰场;干扰抑制;测量技术;噪音场;无线电干扰;射频信号;材料强度;试验;试验条件
【英文主题词】:Basicstandard;Definitions;Degreeofsharpness;Electricappliances;Electricalappliances;Electricalengineering;Electricalequipment;Electrically-operateddevices;Electromagneticcompatibility;Electromagneticdevices;Electronicinstruments;Electronically-operateddevices;EMC;Highfrequencies;Influencequantities;Interferencefields;Interferencerejections;Measurement;Measuringtechniques;Noisefields;Radiodisturbances;Radio-frequencysignals;Specification(approval);Strengthofmaterials;Testing;Testingconditions
【摘要】:
【中国标准分类号】:L06
【国际标准分类号】:33_100_20
【页数】:115P;A4
【正文语种】:英语



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