IEC 60147-1-1963 半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原则.第1部分:基本额定值和特性
作者:标准资料网 时间:2024-04-20 11:49:58 浏览:9794
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【英文标准名称】:Essentialratingsandcharacteristicsofsemiconductordevicesandgeneralprinciplesofmeasuringmethods.Part1:Essentialratingsandcharacteristics
【原文标准名称】:半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原则.第1部分:基本额定值和特性
【标准号】:IEC60147-1-1963
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:
【原文标准名称】:半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原则.第1部分:基本额定值和特性
【标准号】:IEC60147-1-1963
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:
【页数】:
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