YS/T 445-2001 银精矿化学分析方法
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来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 银精矿化学分析方法 |
| 中标分类： |
冶金 >>
金属化学分析方法 >>
贵金属及其合金分析方法 |
| ICS分类： |
冶金 >>
金属材料试验 >>
金属材料化学分析
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| 发布日期： | |
| 实施日期： | 2001-09-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 出版日期： | |
适用范围
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目录
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所属分类： 冶金 金属化学分析方法 贵金属及其合金分析方法 冶金 金属材料试验 金属材料化学分析
【英文标准名称】:Processmanagementforavionics-Electroniccomponentsforaerospace,defenceandhighperformance(ADHP)applications-Part1:Generalrequirementsforhighreliabilityintegratedcircuitsanddiscretesemiconductors
【原文标准名称】:航空电子设备过程管理.航空航天、国防和高性能(ADHP)应用程序用电子组件.第1部分:高可靠性和离散半导体集成电路通用要求
【标准号】:IEC/TS62686-1-2012
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2012-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC107
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:航空工程;航空航天运输;航空运输;航空电子设备;定义(术语);电气设备;电子工程;电子设备及元件;电子产品;重型;集成电路;微型电路;微型开关;工艺管理;质量;质量保证;可靠度;半导体器件;半导体
【英文主题词】:Aeronauticalengineering;Aerospacetransport;Airtransport;Avionics;Definitions;Electricalequipment;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Electronicproducts;Heavy-duty;Integratedcircuits;Microcircuits;Microswitches;Processmanagement;Quality;Qualityassurance;Reliability;Semiconductordevices;Semiconductors
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:03_100_50;31_020;49_060;49_090
【页数】:62P;A4
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法 |
| 英文名称： | Non-magnetic coatings on magnetic substrates--Measurement of coating thickness--Magnetic method |
| 中标分类： |
综合 >>
基础标准 >>
材料防护 |
| ICS分类： |
机械制造 >>
表面处理和涂覆 >>
金属镀层
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| 替代情况： | 被GB/T 4956-2003代替 |
| 发布部门： | 国家标准局 |
| 发布日期： | 1985-02-14 |
| 实施日期： | 1985-12-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 2004-05-01 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 4页 |
适用范围
本标准规定了使用磁性测厚仪器无损测量磁性金属基体上非磁性（包括釉瓷和搪瓷）覆盖层厚度的方法。该方法适用于平试样上的测量。不适用于非磁性基体上覆盖层的测量。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
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所属分类： 综合 基础标准 材料防护 机械制造 表面处理和涂覆 金属镀层
