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IEC 60947-7-1-2009 低压开关设备和控制设备.第7-1部分:辅助设备.铜导线用接线板

作者:标准资料网 时间:2024-05-16 22:39:20  浏览:9543   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Low-voltageswitchgearandcontrolgear-Part7-1:Ancillaryequipment-Terminalblocksforcopperconductors
【原文标准名称】:低压开关设备和控制设备.第7-1部分:辅助设备.铜导线用接线板
【标准号】:IEC60947-7-1-2009
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2009-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC17B
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:辅助装置;电缆连接件;夹具;结构要求;控制图;铜;铜导线;尺寸;电缆;导电体;电气工程;电气试验;铭刻;检验;计数检查;极限(数学);低电压;低压开关设备;作标记;性能;额定值;规范(验收);开关;开关设备;接线板;试验
【英文主题词】:Auxiliarydevices;Cablejunctions;Clamps;Constructionrequirements;Controlcharts;Copper;Copperconductors;Definitions;Dimensions;Electriccables;Electricconductors;Electricalengineering;Electricaltesting;Inscription;Inspection;Inspectionbyattributes;Limits(mathematics);Lowvoltage;Low-voltageswitchgear;Marking;Productinformation;Properties;Ratings;Specification(approval);Switches;Switchgear;Terminalblocks;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:K31
【国际标准分类号】:29_130_20
【页数】:68P;A4
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:DetailSpecification:Fixedlowpowerfilmresistors-Metalfilmresistorsonhighgradeceramic,conformalcoatedormolded,axialorpreformedleads;GermanversionEN140101-806:2008
【原文标准名称】:详细规范:低功率薄膜固定电阻器.高级陶瓷上保护涂覆或模塑、轴向或预制导线的金属薄膜电阻器
【标准号】:DINEN140101-806-2008
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2008-08
【实施或试行日期】:2008-08-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:空白格式;电容性负载;连接件;详细规范;尺寸选定;尺寸;电气工程;电阻;电子设备及元件;薄膜电阻器;固定式薄膜电阻器;固定电阻器;低功率法;金属膜;顺序示度;包装件;质量评定程序;质量评定系统;考核;额定值;电阻器;护壳;规范;稳定性
【英文主题词】:Blankforms;Capacitiveloads;Connections;Detailspecification;Dimensioning;Dimensions;Electricalengineering;Electricalresistance;Electronicequipmentandcomponents;Filmresistors;Fixedfilmresistors;Fixedresistors;Lowpowermethods;Metalfilms;Orderindications;Packages;Qualityassessmentprocedures;Qualityassessmentsystems;Rating;Ratings;Resistors;Sheathings;Specification;Stability
【摘要】:
【中国标准分类号】:L13
【国际标准分类号】:31_040_10
【页数】:39P.;A4
【正文语种】:德语


【英文标准名称】:StandardTestMethodforDeterminingNetCarrierDensityProfilesinSiliconWafersbyCapacitance-VoltageMeasurementsWithaMercuryProbe
【原文标准名称】:用带汞探针的电容-电压测量法测定硅晶片中净载流子密度分布的标准试验方法
【标准号】:ASTMF1392-2002
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2002
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:硅;试验;材料;电子工程
【英文主题词】:materials;electronicengineering;testing;silicon
【摘要】:
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:14P;A4
【正文语种】:英语



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